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德國蔡司ZEISS場發(fā)射掃描電鏡SIGMA系列介紹

來源：三本測量瀏覽：- 發(fā)布日期：2022-07-09 14:41:15【大中小】

聚焦卡爾·蔡司

全球電鏡標(biāo)準(zhǔn)締造者

世界頂級光學(xué)品牌，可見光及電子光學(xué)的領(lǐng)導(dǎo)企業(yè)----德國蔡司公司始創(chuàng)于1846年。其電子光學(xué)前身為LEO（里奧），更早叫Cambridge（劍橋），積掃描電鏡領(lǐng)域40多年及透射電鏡領(lǐng)域60年的經(jīng)驗。

CARL ZEISS以其前瞻性至臻完美的設(shè)計融合歐洲至上制造工藝造就了該品牌在光電子領(lǐng)域無可撼動的王者地位。自成立至今，一直延續(xù)不斷創(chuàng)新的傳統(tǒng)，公司擁有電鏡制造核心先進(jìn)的專有技術(shù)，隨著離子束技術(shù)和基于電子束的分析技術(shù)的加入、是全球唯一為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發(fā)射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案的電鏡制造企業(yè)。其產(chǎn)品的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到全世界廣大用戶的信賴與認(rèn)可。作為全球電鏡標(biāo)準(zhǔn)締造者的CARL ZEISS將一路領(lǐng)跑高端電鏡市場為您開創(chuàng)探求納米科技的嶄新紀(jì)元。

SIGMA 300

ZEISS場發(fā)射掃描電鏡SIGMA 300

640

蔡司公司推出Sigma 300場發(fā)射掃描電鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，將低電壓成像技術(shù)發(fā)揮到了極致，采用適宜的探針電流范圍，降低50%的信噪比從而提升了85%的襯度信息。

Sigma300將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma自動的四步工作流程大大節(jié)省了設(shè)置與分析操作的時間，提高效率。

SIGMA 500

ZEISS場發(fā)射掃描電鏡SIGMA 500

640

蔡司公司推出的Sigma 500場發(fā)射掃描電鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，分辨率超過0.8nm，提供優(yōu)秀分辨率和分析性能科研平臺。

Sigma500專注于一流的EDS幾何學(xué)設(shè)計可以獲取精湛的分析性能。借助Sigma直觀便捷的四步工作流程可以快速成像、簡化分析程序、提高工作效率。比以往更快、更多的獲取數(shù)據(jù)。多種探測器的選擇使Sigma500可以精準(zhǔn)的匹配應(yīng)用程序：獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)、薄膜、涂層和多層的圖像信息。

■ 產(chǎn)品應(yīng)用

掃描電鏡廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。

掃描二維碼關(guān)注